一起答
单选

单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为:( )

  • A.近场干扰
  • B.材质衰减
  • C.盲区
  • D.折射
试题出自试卷《2017年无损检测考试试题超声波部分练习(1)》
参考答案
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