一起答
单选

半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于()。

  • A.可靠性测定试验
  • B.可靠性鉴定试验
  • C.可靠性验收实验
  • D.环境应力筛选试验
试题出自试卷《自考质量管理一试题及答案2009年7月(00153)》
参考答案
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